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Product Category詳細介紹
| 品牌 | Enlitech | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,汽車 | 暗計數(Dark?Count?Rate) | DCR |
| 產地類別 | 進口 | 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SPD2200具備全光譜性能測試包含：
*全光譜光譜響應（SR, Spectral Responsivity）
*全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
*全光譜光子探測率（PDP, Photon Detection Probability）
*暗計數DCR （Dark Count Rate）
*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進光學與電學系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光傳感器測試與分析的經驗，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設的時間成本，并降低測試結果的不確定性。加快產品的開發(fā)周期，提升產品的競爭力。
*SPAD的暗計數與偏壓關系圖
*SPAD暗計數與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測量
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